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Введение в структурный анализ нанокристаллов
Новосибирский государственный университет
С.В.Цыбуля
,
С.В.Черепанова
рис
структуры
дефектов
слоев
дифракционных
пиков
частиц
анализа
упаковки
картины
2θ
рассеяния
окр
порядка
al2o3
атомов
модели
решетки
метод
распределения
дифракционные
типа
слоя
интенсивности
кристаллической
материалов
наночастиц
параметров
ширины
p22111
рода
hkl
анализ
микродеформаций
функции
дифракционной
линии
линий
исследования
наложения
нанокристаллических
основе
отражения
размер
размеров
системы
формы
являются
частицы
кристалла
Année:
2008
Langue:
russian
Fichier:
PDF, 3.42 MB
Vos balises:
0
/
0
russian, 2008
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